Innovació en Metrologia de Superfícies

Innovació en Metrologia de Superfícies

Taller per a descobrir els últims avenços en metrologia òptica 3D i aprendre com aquestes tecnologies estan revolucionant l'anàlisi de superfícies en múltiples indústries.

Sensofar acull un taller exclusiu en col·laboració amb EURECAT. Un espai per endinsar-nos en les tecnologies més avançades en metrologia òptica i anàlisi de superfícies. Els experts del sector mostraran històries d'èxit reals, integracions innovadores i solucions pràctiques per a millorar els processos de fabricació i el control de qualitat de la superfície.

Temes clau

  •  Últims avenços en tecnologies òptiques per a la mesura de superfícies.
  •  Anàlisi superficial de la fabricació additiva postprocessada.
  •  Espai de networking i showroom per veure en acció els equips de metrologia òptica de Sensofar.
  •  Casos d'ús pràctics de la indústria: veurem exemples d'integració de solucions òptiques en màquines làser i tècniques avançades per al disseny de motlles i peces de precisió.

La sessió comptarà amb presentacions d'experts d'Eurecat, LASING, Industrial Química Lasem, SAU, Microrelleus i SENSOFAR, que explicaran com aplicar aquestes eines per millorar la precisió i eficiència en els processos. Consulteu el programa aquí.

Dirigit a

  • Professionals en metrologia de superfícies i caracterització
  • Especialistes en control de qualitat i R+D
  • Professionals de la manufactura avançada
  • Investigadors i estudiants interessats en tecnologies de mesura

Inscripcions aquí.

Data:


27 de novembre de 2024


Ponent:



Lloc:


EURECAT, Manresa


Ciutat:



Pais:


Afegir al calendari 2024-11-2709:30 2024-11-2715:00 Europe/Madrid Innovació en Metrologia de Superfícies EURECAT, Manresa
Aquest esdeveniment ha vençut

Per què associar-se?

Des del Clúster MAV treballem intensament per oferir una proposta de valor diferencial als nostres socis d’acord amb els nostres valors: compromís, excel·lència, col·laboració, implicació, qualitat i confiança.

Modificar cookies